主要参数:
购于2006年
上皿式独立双支架结构
工作温度范围:室温~1500 ℃
加热速率:0.1~50 ℃/min;
天平测量范围:1 mg~1500 mg
气氛:惰性、氧化性、静态、动态
DTA灵敏度: 0.001 ℃
真空度:至 7 Pa (0.05 Torr)
量热精度/准确度:±2 % (根据不同的金属标样)
仪器应用:
可同步测得TG、DTA模式(△T)数据结果。
制样要求:
液体,固体样品均可,质量不少于10 mg。
主要参数:
购于2006年
上皿式独立双支架结构
工作温度范围:室温~1500 ℃
加热速率:0.1~50 ℃/min;
天平测量范围:1 mg~1500 mg
气氛:惰性、氧化性、静态、动态
DTA灵敏度: 0.001 ℃
真空度:至 7 Pa (0.05 Torr)
量热精度/准确度:±2 % (根据不同的金属标样)
仪器应用:
可同步测得TG、DTA模式(△T)数据结果。
制样要求:
液体,固体样品均可,质量不少于10 mg。