主要参数：

测量精度：10^-8 emu

温度范围：

基系统 1.8 K-400 K

He3选件 0.4 K-2 K

高温选件 300 K-1000 K

最大磁场：7 T

剩余磁场：<2.0 Oe

控温速率： 0.01 K-30 K/min

交流测量频率范围：0.1 Hz-1000 Hz

仪器应用：

该系统可以测量块材、粉末、薄膜等样品的直流和交流磁学性质，给出样品磁化强度与温度、磁场、时间的关系，交流磁化率的实部和虚部随温度的变化等。广泛应用于物理、材料、化学等领域。

制样要求：

块材或薄膜样品尺寸不超过5×5×1 mm；粉末样品质量不超过50 mg；高温选件测量样品最好为固体薄片状，长度和宽度小于5 mm，厚度小于1 mm。不能被测试的样品种类：具有放射性的样品；真空中会释放大量气体，尤其释放的气体具有腐蚀性的样品；有化学毒性和生物毒性的样品。

应用举例：

    Binbin Chen, HaoranXu, Chao Ma, Stefan Mattauch, Da Lan, Feng Jin, Zhuang Guo, Siyuan Wan, Pingfan Chen, Guanyin Gao, Feng Chen,Yixi Su,Wenbin Wu, Science 357, 191-194 (2017).