主要参数：
扫描范围： X、Y: 12 μm ×12 μm， Z : 2.5 μm
光学系统： 450倍放大，彩色CCD摄像头
变温系统： -35 ℃～ 250 ℃
噪声水平： ≤ 0.3 Å
TUNA2 ： C-AFM分辨率为 2 pA，测量范围10 nA～1 μA。TUNA分辨率约为50 fA，测量范围 10 pA～100 pA
控制器：Nanoscope V型
仪器应用：
广泛的应用在材料科学、生命科学、聚合物等诸多领域。它能够提供全部的原子力显微镜 (AFM) 技术，可以测量样品的多种表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力、磁/电场分布、表面电势等，同时配备了电流测量(TUNA)、液体/气体环境和控温附件(-35 ℃ ~ 250 ℃)和扫描隧道 (STM) 显微镜附件
制样要求：
样品需要牢固的粘附在平整的衬底上面，然后将衬底粘附到仪器专用的铁片上。
资源下载（如操作规程等）：
理化中心DI MultiMode V AFM简易操作教程.doc