日本电子JEM-F200 场发射高分辨透射电子显微镜运行通知

主要技术指标：

主机：

冷场发射电子枪：（EM-20230CFEG）

束流：≥2.5 nA @ 0.7 nm Probe Size

能量分辨率：≤0.3 eV

TEM点分辨率0.23 nm；TEM条纹分辨率：0.1 nm

STEM-HAADF分辨率：0.16 nm

BEI分辨率：1 nm

加速电压：80 kV、200 kV

双探头X射线能谱（JED-2300T），支持EDS Mapping/Line/Point测试项目

探头面积：2×100 mm²；固体角≥1.7 sr

能量分辨率：≤133 eV; 元素分析分析范围：₅B~₉₂U

电子能量损失谱仪系统(GIF Continuum 1065 IS)，支持EFTEM; EELS Mapping/Line/Point等测试项目

能量分辨率：0.5eV@200 kV；0.3eV@80 kV

仪器放置地点：中国科学技术大学理化科学实验中心一楼118室。

联系电话：0551-63602805

该仪器已完成安装调试，现正式投入运行，预约方式见理化科学实验中心网站：https://pic.ustc.edu.cn/main.htm。