日本电子JEM-F200 场发射高分辨透射电子显微镜运行通知

发布者:周俊发布时间:2024-03-12浏览次数:10


主要技术指标:

主机:

冷场发射电子枪:(EM-20230CFEG

束流:≥2.5 nA @ 0.7 nm Probe Size

能量分辨率:0.3 eV

TEM点分辨率0.23 nmTEM条纹分辨率:0.1 nm

STEM-HAADF分辨率:0.16 nm

BEI分辨率:1 nm

加速电压:80 kV200 kV


双探头X射线能谱JED-2300T),支持EDS Mapping/Line/Point测试项目

探头面积:2×100 mm2;固体角1.7 sr

能量分辨率:133 eV; 元素分析分析范围:5B~92U


电子能量损失谱仪系统(GIF Continuum 1065 IS),支持EFTEM; EELS Mapping/Line/Point等测试项目

能量分辨率:0.5eV@200 kV0.3eV@80 kV


仪器放置地点:中国科学技术大学理化科学实验中心一楼118室。

联系电话:0551-63602805

该仪器已完成安装调试,现正式投入运行,预约方式见理化科学实验中心网站:https://pic.ustc.edu.cn/main.htm