中文名:透射电子显微镜
英文名:High Resolution Transmission Electron Microscopy
所属机组:透射电镜(TEM)
仪器型号:HT7700 Exalens
房间:133
负责人:李探微,tel:0551-63602805/13865997624,email:twli@ustc.edu.cn
负责人:刘先明,tel:0551-63600144,email:liuxm@ustc.edu.cn
负责人:王延茹,tel:0551-63600144,email:yanruw@ustc.edu.cn
负责人:

主要技术指标

主机:

点分辨率:0.23 nm;条纹分辨率:0.14 nm

加速电压: 200 kV   放大倍数:30~ 1.5×106

倾斜角度: ±30o    相机长度:0.4 ~ 2.0 m

X射线能谱(Oxford X-MAX 80T):

能量分辨率:126 eV   最小分析区域:10 nm

元素分析范围:5B ~ 92U

相机:SIS QUEMESA 1100万像素底插CCD

 

制样要求:

1、对于粉末和液体样品,可直接超声分散后滴加在载网上;

2、块体和薄膜样品,需要事先包埋切片或FIB加工。

 

仪器功能和使用范围:

1、明场像(形貌像):可获得材料样品的形态和内部微细结构特征。

2、相位衬度像(高分辨像):可获得晶体的一维晶格条纹像、二维晶格点阵像和原子结构像。

3、电子衍射花样:可获得晶体不同取向的电子衍射花样。

4、衍射暗场像:用衍射电子成像,研究晶体结构特征。

5X射线能谱:可在无标样条件下对试样微小区域的成分做定性和相对定量分析。


应用:

C:\Users\24413\Desktop\图51.png

可进行形貌相、高分辨像、电子衍射花样的采集