设备技术指标：

光源类型：X射线微焦斑光源

靶材类型：Cu/Mo

最大功率: 50 W

最大管压: 50 KV

最大管流: 1 mA

X射线发散度：小于0.2 mRad

测量精度：Δq = 0.005 nm^-1

测量q最大范围: 0.02 nm^-1 ≤ q ≤ 40.7 nm^-1

测量角度最大范围：0.03度≤ 2θ ≤ 60 度

仪器功能及附件：

X射线散射(SAXS,WAXS,GISAXS)是分析材料纳米结构的无损检测方法。利用X射线打到样品上时会产生与样品纳米结构特征相对应的散射图案，对图案进行分析从而得到材料的相应结构信息。小角散射技术是研究亚微观结构和形态特征的最有效方法，适用于从固体（如：粉体颗粒，微相分离，高分子薄膜、纳米复合材料）到液体（如：胶体、蛋白质溶液）的各种样品。具有样品准备简单，重复性好，适合领域广等特点。可以测定样品的大小、形状（如：球状、棒状、圆盘状）、粒径分布、孔隙度、内部结构、取向、结晶度等信息。

该仪器配有以下测试附件：

常规固体样品槽、液体样品槽、粘性样品槽、低噪音样品槽。

变温样品台（温度范围-150℃-350℃）；

GISAXS样品台；

拉伸样品台；

原位高压样品台（常压-100 bar）

其他特殊测试要求请与机组老师联系。