理化科学实验中心新购置的X射线光电子能谱仪（KRATOS, AXIS SUPRA+）已于近期安装完毕。该电子能谱仪具备XPS、UPS测试分析功能，主要用于粉末、薄膜等材料表面几个原子层（1~10纳米厚的表面）化学组成、价态、深度剖析及成像、功函数特性的分析与表征。可检测除氢和氦以外的所有元素，检测限约0.1 at%。适用于分析无机化合物、金属合金、半导体、聚合物、陶瓷、催化剂、玻璃、纸张、纺织品等固体材料。样品形态包括块状、薄膜、粉末、纤维等，具有广泛的样品适用性。
仪器（AXIS SUPRA+）主要参数：
分析室极限真空：5×10-10 torr；
单色化X射线源：Al kα，最大功率600 W，束斑300×700 μm2；
能量分辨率和灵敏度（Ag 3d5/2）：Ag 3d5/2峰半高宽为0.6 eV时强度大于1,500 kcps;
UPS：灵敏度1,000,000 cps,能量分辨率100 meV@Ag费米边。
制样要求：样品无辐射，无剧毒，无挥发性。其中：
粉末：必须干燥；
块状（无铁磁性）：厚度<2 mm，长*宽<5*5 mm。
该仪器目前已经基本调试完毕，各项指标符合要求，现投入试运行，有测试需求的老师和同学请与XPS机组联系测试，电话：0551-63602806。