中文名:高分辨透射电子显微镜
英文名:High Resolution Transmission Electron Microscopy
所属机组:高分辨透射电镜(HRTEM)
仪器型号:Talos F200X
房间:126
负责人:石 磊,tel:0551-63601503,email:leishi@ustc.edu.cn
负责人:左 鸣,tel:0551-63601503,email:zming@ustc.edu.cn
负责人:林 岳,tel:0551-63601503,email:linyue@ustc.edu.cn
负责人:孙 梅,tel:0551-63601503,email:sunmei20@ustc.edu.cn

主要参数:

工作电压200 KV,配有超高亮度肖特基场发射电子枪,TEM点分辨率0.25 nm,信息分辨率0.12 nmSTEM分辨率0.16 nm,能谱能量分辨率136 eV

 

仪器应用:

广泛应用在物理、化学以及材料科学中,作为确定物质结构以及成分的一个重要方法,可金属、陶瓷、半导体、塑料等材料进行微区结构观测,配合能谱仪对样品元素进行分布分析。

 

制样要求

1.     对于粉末和液体样品,可直接超声分散后滴加在载网上;

2.     块体和薄膜样品,需要事先包埋切片或FIB加工。

 

应用举例:

  

 

独特的四探头能谱仪设计,可在较短时间内实现样品的微区元素分析。