中文名:X-射线荧光光谱仪
英文名:X-Ray Fluorescence Spectrometer
所属机组:X射线荧光(XRF)
仪器型号:XRF-1800型(日本岛津SHIMADZU)
房间:403
负责人:汪邓民,tel:0551-63606440,email:wdm@ustc.edu.cn
负责人:
负责人:
负责人:

主要参数:

X射线管靶材:  铑靶(Rh),

X射线管电压:  60 KVMax

X射线管电流:  140 MAMax

X射线管功率:  4 KVA

检测元素范围:元素周期表中4 (Be)92 (U)

检测浓度范围: 0.0001%~99.999%

扫描分析微区:直径250 µm,3 mm

 

仪器功能及附件:

仪器利用基本参数法(FP),用世界上最快的超高速扫描(300°/分)可以进行简单而快速的全元素定性、定量分析。

1. 扫描分析样品中的元素从周期表4Be)号到92U)号元素,可得样品中全元素种类和含量。

2. 通过CCD数字成像技术,实现了3 mm0.5 mm的定位分析功能;并可进行250 µm微区元素面分布成像分析(图1);实现低倍率下精确、定量分析。

3. 利用高次线解析可以进行准确的元素定量分析,适应新材料特别是纳米、稀土材料中元素的精确定量分析。

4. 配置有无机、高分子薄膜的厚度测定与膜元素成分分析,可分析达10层膜结构,80种元素。

5. 利用X射线管的铑靶的RhKa康普顿散射X线和瑞利散射线的比率(“RhKaC/RhKa”)作为分析线定量分析有机物中的HCO的含量。

 

仪器主要特点:

1. 全元素扫描分析。分析精度高,速度快。

2. 制样简单。样品无需经过化学消解前处理,可不破坏样品直接做无损分析。

3. 检测样品形态种类不限。如块状、粉末状固体、薄膜,液体,悬浊液等样品。

4. 分析元素含量的线性范围广。分析浓度范围从痕量(0.0001%)到常量(99.999%)。

5.分析的样品量从几十毫克到几十克。大功率激发源(初级X)可探测样品深度达0.033 mm

6. 利用滤纸法可快速定量,定性分析液体中元素种类和含量。

7. 检出限达0.0005 mg.g1 , 分析精度为0.02%~2.0%。

 

仪器应用:

X-射线荧光光谱仪主要用于物质中元素的定性、定量分析,其主要用途如下:|

1. 物理研究领域:用来研究电子、磁性材料等如半导体、磁光盘、磁性材料、电池、线路板、电容器等材质、膜厚。

2. 化学研究、化学品及纳米、稀土等新材料领域:可用来研究和测定无机物质、无机有机复合物或材料如纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、橡胶等化学成份种类及元素含量。

3. 钢铁、有色金属及冶炼工业:可用来研究和测定各种合金、矿石成份。

4. 陶瓷、玻璃及水泥工业:可用来测定水泥、玻璃、陶瓷及粘土、岩石等原材料成份。

5. 农业、食品领域:可用来检测土壤、肥料、植物、食品、农药中主要元素成份及重金属(CrNiCuZnAsPb等)。

6. 环保领域:用于工厂污染物、大气浮尘、城市废弃物、江河海中固体、水样的成份分析。

7. 考古研究:用于对陶、古钱币、青铜及玉器、古画颜料及古生物样品中成份的鉴定(无损分析),以及测定元素含量。

8. 地球化学研究:可定量分析研究岩石圈(矿物)、土壤圈、水及生物圈中元素丰度。

 

制样要求:

固体粉末样品做定性-定量分析需要样品量0.01-6.0 g,定量分析的样品需要过300目筛,取样需要1.0-6 g。液体样品0.1-5 ml, 块状样品取样大小为长宽<40×40 mm、厚度<20 mm

资源下载(如操作规程等)

  

X-射线荧光光谱仪.docx