主要参数:
X射线光源: Cu靶,陶瓷X光管;
电流电压:电压≤40 kV,电流≤40 mA;
测角仪:立式测角仪,测角仪半径240 mm,角度重现性达±0.001o,最小步长为0.001o;
样品台:水平样品台,高温样品台(室温-1100 ℃),多功能样品台
探测器:正比探测器。
其他模块:FDS,双晶平行光单色器,平板准直器,石墨单色器
仪器应用:
本台X射线衍射仪配有高温模块,主要用于高温相变材料的原位结构表征,不仅可以对粉末样品进行原位测试,还可以对外延薄膜进行原位非常规环境的结构测试。温度变化范围为室温到1100 oC。
制样要求:
1. 单晶薄膜样品:样品尺寸不小于5 mm×5 mm见方。需标明基片材料和晶面取向
2. 粉末样品:样品需要在空气中稳定存在,需经过充分研磨,研磨后粒径不大于200目,样品量不小于1 g。
3. 特殊样品(如易氧化、易潮解、有毒、放射性等)需注明处理和保存的具体要求,并提前联系测试人员。