中文名:X射线衍射仪
英文名:X-ray Diffractometer
所属机组:X射线衍射(XRD)
仪器型号:X `Pert MPD
房间:116
负责人:高关胤,tel:0551-63603975,email:ggy@ustc.edu.cn
负责人:姚震宇,tel:0551-63602810,email:yaozy@ustc.edu.cn
负责人:
负责人:

主要参数:

  

X射线光源: Cu靶,陶瓷X光管;

电流电压:电压40 kV,电流40 mA

测角仪:立式测角仪,测角仪半径240 mm,角度重现性达±0.001o,最小步长为0.001o

样品台:水平样品台,高温样品台(室温-1100 ℃),多功能样品台

探测器:正比探测器。

其他模块:FDS,双晶平行光单色器,平板准直器,石墨单色器

 

仪器应用:

  

本台X射线衍射仪配有高温模块,主要用于高温相变材料的原位结构表征,不仅可以对粉末样品进行原位测试,还可以对外延薄膜进行原位非常规环境的结构测试。温度变化范围为室温到1100 oC

 

制样要求:

1.     单晶薄膜样品:样品尺寸不小于5 mm×5 mm见方。需标明基片材料和晶面取向

2.     粉末样品:样品需要在空气中稳定存在,需经过充分研磨,研磨后粒径不大于200目,样品量不小于1 g

3.     特殊样品(如易氧化、易潮解、有毒、放射性等)需注明处理和保存的具体要求,并提前联系测试人员。

 

  

XRD-MPD应用举例.docx